電子元器件是元件和器件的（de）總稱。常用電子元器件（jiàn）：電阻、電容、二極管、三極管、變壓器、繼（jì）電（diàn）器、壓敏、液晶、連接器、可控矽、輕觸開關、蜂鳴器、各種傳感器、接插件、電（diàn）機、天線等等（děng）。

1、機械衝擊：確定光（guāng）電子器件是否能適（shì）用於在需經受中等嚴（yán）酷程序衝擊的電子設備中，衝（chōng）擊可能是裝卸、運輸（shū）或（huò）現場使用過程中突然受力或劇（jù）烈振動（dòng）所產生的。

2、變頻振動測試（shì）：確定（dìng）在規範頻（pín）率範圍內振動對光電子器各部（bù）件（jiàn）的影響。

3、熱衝擊測試：確定（dìng）光電子器件在遭受到溫度（dù）劇（jù）變時的抵抗能力和產生的（de）作用。

4、插拔耐久性測試：確（què）定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光（guāng）功（gōng）率、損耗和反射（shè）等參數是否滿足重複性（xìng）要求。

5、存儲試驗：確定光電子（zǐ）器（qì）件能否經受高溫和低溫下運輸（shū）和儲存。

6、溫度循環測試：確定光電子器件承受極高溫和（hé）極低溫的（de）能力，以及極高溫和極低溫度交替變化對光電子器件的影響。

7、恒定濕熱：確定（dìng）密封和非密封光電子器件能否同時承受規定的（de）溫度和濕度。

8、高溫（wēn）壽命測試：確定光電子器件（jiàn）高溫加速（sù）老化失效機理和（hé）工（gōng）作壽命。

加速老化試驗：在光電子器（qì）件上施加高（gāo）溫、高（gāo）濕和一定的驅（qū）動電流進行的加速老（lǎo）化，依據試驗的結果（guǒ）來判定光電子器件具備功能和（hé）喪失功（gōng）能，以（yǐ）及接收和拒收（shōu），並可對光電子（zǐ）器件工作（zuò）條（tiáo）件進行調整和對可靠（kào）性（xìng）進（jìn）行計算。

1、高溫加速老化：加（jiā）速（sù）老化過程中最基本（běn）環境（jìng）應力式高溫。在實驗過程中，應定斯監測選（xuǎn）定的參數，直到退化超過壽（shòu）命終止為止。

2、恒溫（wēn）試驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應規定恒溫試（shì）驗樣品數量和允許失效（xiào）數。

3、變溫試（shì）驗：變（biàn）化濕（shī）度的高溫加速老化試驗是（shì）定期按順（shùn）序逐步升（shēng）高（gāo）溫度

加速老化試驗：在（zài）光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行的加速老化，依據試驗的結果來判定光（guāng）電子器件具備功能和喪失功能（néng），以及（jí）接收和拒收，並可對光電（diàn）子器件工作條（tiáo）件（jiàn）進（jìn）行調整（zhěng）和對可靠性進行計算。

1、高溫加（jiā）速老化：加速老化過程中最基本環境應力式高溫。在實驗過程（chéng）中，應定斯監測選定的參數，直到退（tuì）化超過壽命終止為止。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗與高溫運（yùn）行試驗類似（sì），應規定恒溫試（shì）驗樣品數量和允許失效數。

3、變溫試驗（yàn）：變化濕度（dù）的高溫加速老化試驗（yàn）是定期按順序逐（zhú）步升高溫度

一、 設備用途:

    微電腦插拔力（lì）試驗機適用於（yú）各類連接器（qì）（件）、插頭插座等產品作插入、拔出之疲勞壽命（mìng）測試；

電動插拔力試驗機采用台灣AC調速電機（jī）為動力源，質量可（kě）靠，耐（nài）久使（shǐ）用；配以專用對（duì）心夾（jiá）持夾具對連接件（器）作插拔測（cè）試，由於采（cǎi）用導程銅套降低（dī）了機械摩擦及噪聲；

電動插（chā）拔力試驗機可選配微型印表機打印（yìn）插入力與拔出力，且打印間隔（gé）可以設定，自動計算最大（dà）力、最小力、平均力。

二、設備參數: