電子元器件是元件和器件的（de）總稱。常用電子（zǐ）元器件：電阻、電容、二極（jí）管、三極管、變（biàn）壓器、繼電器、壓敏、液晶、連接器、可控矽（guī）、輕觸開關、蜂鳴器、各（gè）種傳感器、接插件、電（diàn）機、天線等等。

1、機械衝擊：確定光電子器件是否能適用於在需經受中等嚴酷程序衝擊的電（diàn）子（zǐ）設備中，衝擊可能是裝（zhuāng）卸、運輸或現（xiàn）場使用過程中突然受力或劇烈（liè）振動所產（chǎn）生的。

2、變頻振動測試：確定在規範頻率（lǜ）範圍內振動對光電子器各部件的影響（xiǎng）。

3、熱衝擊測試：確（què）定光電子器件（jiàn）在遭（zāo）受到溫（wēn）度劇變時的抵抗能力和產生的作用。

4、插拔耐（nài）久性測試：確定光（guāng）電子器（qì）件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數是否滿足重複性要（yào）求。

5、存儲試驗：確定光電子器件能否經受高溫和低溫下運（yùn）輸和儲（chǔ）存。

6、溫度循環測試：確定（dìng）光電子器件承受極（jí）高溫和極低溫的能力，以及極高溫和極低溫度交替變化對光電子器件（jiàn）的影響。

7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時承受規定（dìng）的溫（wēn）度和濕度（dù）。

8、高溫壽命（mìng）測試：確定光電子器件高溫加速老化失效（xiào）機理和工作壽命。

加（jiā）速老化試驗：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動電流（liú）進行的加速老化，依（yī）據試驗的結果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和（hé）拒收，並可對光電子器（qì）件工作條件進行調整和對可靠性進行（háng）計算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中最基（jī）本環境應力式高（gāo）溫。在實驗過程中，應（yīng）定斯監測選定的參（cān）數，直到退化超過壽命終止為止。

2、恒溫試驗（yàn）測（cè）試：恒溫試驗（yàn）與高溫運行試驗類似，應規定恒溫試驗樣品數量和允許（xǔ）失效數。

3、變溫試驗：變化濕度的高（gāo）溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度

加速老化試驗：在光電子器件上施加高（gāo）溫、高濕和一定的驅動電流進行的加速老化，依（yī）據試驗的結果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，並可對光電子器（qì）件工作（zuò）條件進行調（diào）整和對可靠性進行計算。

1、高溫加速老化（huà）：加速老化過程中最基本（běn）環境應（yīng）力式高溫。在實驗過（guò）程中，應定斯監測選定的參數，直（zhí）到退化超過壽命（mìng）終止為止。

2、恒溫（wēn）試驗（yàn）測試：恒溫試驗（yàn）與高溫（wēn）運行試驗類似，應規定恒溫試驗樣品數（shù）量和允許失效數。

3、變（biàn）溫試驗：變化濕度（dù）的高溫加速老化（huà）試驗是（shì）定期按順（shùn）序逐步升高溫度（dù）

一、 設（shè）備用途:

    微電腦（nǎo）插拔力（lì）試驗機適（shì）用於各類連接器（件）、插頭插座等產品（pǐn）作插（chā）入（rù）、拔出（chū）之（zhī）疲勞壽（shòu）命測試；

電（diàn）動插（chā）拔力試驗機采用台灣AC調（diào）速電機為動力源，質量可靠，耐久使用；配以專用對心夾持夾具對連接件（器）作插拔測試，由（yóu）於采用導程銅套降（jiàng）低（dī）了機械摩擦及噪聲；

電動插拔力試驗機可選配微型（xíng）印表機打（dǎ）印插入力與拔出力，且打印間隔可以設定（dìng），自動計算最大力、最小（xiǎo）力、平均力。

二、設（shè）備參數: